SN74BCT8373ANT

Texas Instruments

Producto No:

SN74BCT8373ANT

Fabricante:

Paquete:

24-PDIP

Lote:

Ficha de datos:

Descripción:

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

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Operating Temperature	0°C ~ 70°C
Series	74BCT
Package / Case	24-DIP (0.300", 7.62mm)
Logic Type	Scan Test Device with D-Type Latches
Mfr	Texas Instruments
Supply Voltage	4.5V ~ 5.5V
Number of Bits	8
Package	Tube
Mounting Type	Through Hole
Product Status	Obsolete
Supplier Device Package	24-PDIP
Base Product Number	74BCT8373