24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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Quantità:
TCSD-17-D-02.01-01-N-RW-R
Samtec Inc.
337-030-544-807
EDAC Inc.
CPS22-LA00A10-SNCCWTWF-AI0CYVAR-W1053-S
SCHURTER Inc.
2225Y2500274KDT
Knowles Syfer
HS1B M2G
Taiwan Semiconductor Corporation
